用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置专利登记公告

专利名称：用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置

摘要：本发明描述了一种用于确定相关值(R(i，m))的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目(I)的输入节点中的输入节点(i)与第二数目(M)的测量节点中的测量节点(m)的组合((i，m))的相关性，所述方法包括：在第一数目(I)的输入节点处应用第三数目(K)的测试，其中第三数目(K)的测试中的每个测试(k)为每个输入节点(i)定义一测试输入选项(U(k，i))；针对第三数目(K)的测试中的每个测试(k)测量在第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对第二数目(M)的测量节点中的每个测

专利类型：发明专利

专利号：CN200880101430.5

专利申请（专利权）人：惠瑞捷(新加坡)私人有限公司

专利发明（设计）人：约亨·里瓦尔

主权项：一种用于确定相关值(R(i，m))的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目(I)的输入节点中的输入节点(i)与第二数目(M)的测量节点中的测量节点(m)的组合((i，m))的相关性，所述方法包括：在所述第一数目(I)的输入节点处应用(1710)第三数目(K)的测试，其中所述第三数目(K)的测试中的每个测试(k)为每个输入节点(i)定义测试输入选项(U(k，i))；针对所述第三数目(K)的测试中的每个测试(k)测量(1720)在所述第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对所述第二

专利地区：新加坡