基于复合彩色条纹投影的绝对相位测量方法专利登记公告

专利名称：基于复合彩色条纹投影的绝对相位测量方法

摘要：本发明公开一种基于复合彩色条纹投影的绝对相位测量方法。该测量方法先通过软件编程产生几何序列的二进制条纹和彼此间有固定相位移动的正弦条纹，并把这些条纹调制到彩色图像的红、绿、蓝三色通道中，形成复合彩色条纹图像；再采用DLP数字投影仪把复合彩色条纹图像投影到被测物体的表面，并利用彩色CCD数码相机从不同于投影方向的方向采集被测物体表面变形的条纹图像信息；进而处理所采集的条纹图像信息，提取出正弦条纹和二进制条纹后，分别计算折叠相位图和确定正弦条纹的绝对级次，最后独立计算出各个像素点位置的绝对相位信息。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010140543.5

专利申请（专利权）人：河北工业大学

专利发明（设计）人：张宗华

主权项：一种基于复合彩色条纹投影的绝对相位测量方法，该测量方法先通过软件编程产生几何序列的二进制条纹和彼此间有固定相位移动的正弦条纹，并把这些条纹调制到彩色图像的红、绿、蓝三色通道中，形成复合彩色条纹图像；再采用DLP数字投影仪把复合彩色条纹图像投影到被测物体的表面，并利用彩色CCD数码相机从不同于投影方向的方向采集被测物体表面变形的条纹图像信息；进而处理所采集的条纹图像信息，提取出正弦条纹和二进制条纹后，分别计算折叠相位图和确定正弦条纹的绝对级次，最后独立计算出各个像素点位置的绝对相位信息。

专利地区：天津