单处理器控制的三维形貌光学测量系统及测量方法专利登记公告

专利名称：单处理器控制的三维形貌光学测量系统及测量方法

摘要：一种单处理器控制的三维形貌光学测量系统及测量方法。本发明提供的测量系统包括一个带有双屏驱动显示适配器的计算机，该计算机一路连接显示器，另一路连接投影仪，同时，该计算机通过图像采集卡连接摄像装置。测量方法是：建立起参考平面坐标(x，y)和光强分布I(x，y)间的映射关系；放入被测物体后，由摄像装置采集图像并传入计算机，从中得出物面上任意一点D的相位φ1(x，y)；确定物面上任意一点D的变形光栅相对于参考光栅的相位差，最后根据公式确定被测物面上任意一点D的高度h；重复以上操作，计算整个视野内所有像素点即可得到

专利类型：发明专利

专利号：CN201010147913.8

专利申请（专利权）人：天津理工大学

专利发明（设计）人：孙杰;田静;宁韩利;许中奇;杨明

主权项：一种单处理器控制的三维形貌光学测量系统，其特征在于该测量系统主要由结构光投影、图像采集与处理和三维形貌测量结果显示三部分所组成，具体包括一个带有双屏驱动显示适配器的计算机，该计算机系统的显示部分的两路输出信号中，一路连接显示器，另一路连接投影仪，同时，该计算机通过图像采集卡连接摄像装置。

专利地区：天津