带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法专利登记公告
专利名称:带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法
摘要:本发明公开一种带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法,该烧录机包括主控模块、通讯模块、人机接口模块和给以上各模块提供电源的电源模块,主控模块负责对通讯模块进行控制收发、保存通讯数据,并负责对人机交互模块的交互,还包括一芯片插座,其通过烧录的管脚与主控模块相连,待烧芯片插入该芯片插座后受主控模块的控制,在芯片插座端还引出有用于测试的管脚,该测试的管脚也与主控模块相连;主控模块中包含一芯片IO测试程序,该芯片IO测试程序监测待烧芯片IO口是否能在测试模式下正常置高、置低。本发明可排除芯片插错、插反等错误情况发生,
专利类型:发明专利
专利号:CN201010587840.4
专利申请(专利权)人:无锡华润矽科微电子有限公司
专利发明(设计)人:潘杰;王会刚
主权项:一种带芯片测试功能的烧录机,包括主控模块、通讯模块、人机接口模块和给以上各模块提供电源的电源模块,所述主控模块负责对所述通讯模块进行控制收发、保存通讯数据,并负责对所述人机交互模块的交互,还包括一芯片插座,其通过烧录的管脚与所述主控模块相连,待烧芯片插入该芯片插座后受所述主控模块的控制,其特征在于:在所述芯片插座端还引出有用于测试的管脚,该测试的管脚也与所述主控模块相连;所述主控模块中包含一芯片IO测试程序,该芯片IO测试程序监测所述待烧芯片IO口是否能在测试模式下正常置高、置低。
专利地区:江苏
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。