太阳能晶片的掺杂方法以及掺杂晶片专利登记公告
专利名称:太阳能晶片的掺杂方法以及掺杂晶片
摘要:本发明公开了一种太阳能晶片的掺杂方法包括以下步骤:在N型基底表面形成掺杂剂量为a的N+型掺杂层;在该N+型掺杂层表面形成具有图样的薄膜;将该P型离子从该开放区域的一侧倾斜注入至该N型基底中以形成N型掺杂区域;将该P型离子从该开放区域的另一侧倾斜注入至该N型基底中以形成P+型掺杂区域;去除该具有图样的薄膜,其中,所述的P型替换为N型时,N型同时替换为P型。本发明还公开了一种掺杂晶片。本发明中P+型掺杂区域与N+型掺杂层之间具有N型基底的基底材料作为缓冲层,使得PN结之间不会因为耗尽层太薄而导致被击穿,由此提
专利类型:发明专利
专利号:CN201010599429.9
专利申请(专利权)人:上海凯世通半导体有限公司
专利发明(设计)人:陈炯;钱锋;洪俊华
主权项:一种太阳能晶片的掺杂方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤S1、在N型基底表面形成掺杂剂量为a的N+型掺杂层;步骤S2、在该N+型掺杂层表面形成具有图样的薄膜,其中,未被该具有图样的薄膜覆盖的区域为开放区域;步骤S3、加速P型离子并通过离子注入的方式将该P型离子从该开放区域注入至该N型基底中,其中离子注入的方向为位于该N型基底法线平面的一侧与该N型基底法线平面呈夹角α的方向,P型离子的掺杂剂量为完成离子注入后,在该N+型掺杂层中经过离子注入的区域形成N型掺杂区域;步骤S4、加速P型离子并通过离子注入的方式
专利地区:上海
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。