一种极薄覆盖层厚度的测量方法专利登记公告
专利名称：一种极薄覆盖层厚度的测量方法
摘要：一种极薄覆盖层厚度的测量方法，是在金相试样上，采用斜交于覆盖层取样，按照GB6462-86《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》通过显微镜测量试样的厚度值，其试样基体制作方法是：沿垂直于覆盖层的截取面截取试样，得到的截面为检测面，测得其厚度测量值为a，在与覆盖层表面斜交、夹角为α的面截取检测放大面，得到检测放大面，测得其厚度测量值为b，则最终测定值δ＝bsinα。
专利类型：发明专利
专利号：CN201010608424.8
专利申请（专利权）人：中国航空工业标准件制造有限责任公司
专利发明（设计）人：程祥勇;廖立新
主权项：一种极薄覆盖层厚度的测量方法，是在金相试样上，采用斜交于覆盖层取样，按照GB6462?86《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》通过显微镜测量试样的厚度值，其特征在于：沿垂直于覆盖层的截取面截取试样，得到的截面为检测面，测得其厚度测量值为a，在与覆盖层表面斜交、夹角为α的面截取检测放大面，得到检测放大面，测得其厚度测量值为b，则最终测定值δ＝bsinα。
专利地区：贵州
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