一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法专利登记公告

专利名称：一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法

摘要：本发明涉及一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法，该方法包括以下步骤：1)通过放电电阻R3给电容放电；2)电容放电完成后，通过热敏电阻R1给电容充电，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T1；3)通过放电电阻R3给电容放电；4)电容放电完成后，通过标准电阻R2给电容充电，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T2；5)手机处理器对所采集的充电时间进行处理，得出手机电池的温度。与现有技术相比，本发明具有方法简单，且节省了基带芯片的硬件资源等优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010609807.7

专利申请（专利权）人：希姆通信息技术(上海)有限公司

专利发明（设计）人：柴路

主权项：一种利用基带芯片的通用IO口测量手机电池温度的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1)手机处理器将第一通用IO口和第二通用IO口设置为高阻态，第三通用IO口设置为输出低，通过放电电阻R3给电容放电；2)电容放电完成后，手机处理器将第一通用IO口设置为输出高，第二通用IO口设置为高阻态，第三通用IO口设置为输入口，通过热敏电阻R1给电容充电，第三通用IO口可检测电平变化，当检测到电平变高的时候，停止充电，并采集充电时间T1；3)手机处理器将第一通用IO口和第二通用IO口设置为高阻态，第三通用IO口设置为输

专利地区：上海