磁隧道结中偏流/偏压引起的升温的测量方法专利登记公告

专利名称：磁隧道结中偏流/偏压引起的升温的测量方法

摘要：本发明公开了一种磁隧道结中由偏流/偏压引起的温度上升的测量方法，其包括以下步骤：（a）施加一外部时变磁场到所述磁隧道结；（b）在不同的温度值下测量不同的第一外触发磁场值；（c）根据所述温度值和所述第一外触发磁场值计算温度与外触发磁场之间的关系；（d）在不同的偏流/偏压值下测量不同的第二外触发磁场值；（e）根据所述偏流/偏压值和所述第二外触发磁场值计算偏流/偏压与外触发磁场之间的关系；（f）根据步骤（c）和（e）的结果计算所述温度与所述偏流/偏压之间的关系。采用本发明的测量方法，可以获得温度与偏流/偏压之间

专利类型：发明专利

专利号：CN201010588666.5

专利申请（专利权）人：新科实业有限公司

专利发明（设计）人：李文杰;梁钊明;梁卓荣;丁菊仁;倪荣光

主权项：一种测量方法，用于测量磁隧道结中由偏流/偏压引起的温度上升，其特征在于，所述测量方法包括以下步骤：(a)施加一外部时变磁场到所述磁隧道结；(b)在不同的温度值下测量不同的第一外触发磁场值；(c)根据所述温度值和所述第一外触发磁场值计算温度与外触发磁场之间的关系；(d)在不同的偏流/偏压值下测量不同的第二外触发磁场值；(e)根据所述偏流/偏压值和所述第二外触发磁场值计算偏流/偏压与外触发磁场之间的关系；(f)根据步骤(c)和(e)的结果计算温度与偏流/偏压之间的关系。

专利地区：香港