一种四氯化硅中三氯氢硅杂质的去除方法专利登记公告
专利名称:一种四氯化硅中三氯氢硅杂质的去除方法
摘要:本发明为一种四氯化硅中三氯氢硅杂质的去除方法。它以市售粗四氯化硅为原料,以不活泼或惰性气体作为保护气氛,通入氯气,在光照的情况下,使三氯氢硅与氯气进行反应转化为四氯化硅,从而达到将三氯氢硅除去的目的。本方法快速、高效,经过提纯后的四氯化硅,其红外谱图中三氯氢硅的基频处未见有吸收,满足光纤用四氯化硅对三氯氢硅含量的要求。
专利类型:发明专利
专利号:CN201010621126.2
专利申请(专利权)人:北京有色金属研究总院;北京国晶辉红外光学科技有限公司
专利发明(设计)人:苏小平;王铁艳;毛威;莫杰;袁琴;刘福财;武鑫萍
主权项:一种四氯化硅中三氯氢硅杂质的去除方法,其特征在于:它包括以下步骤:1)、将粗四氯化硅原料压入反应容器,并通入不活泼或惰性气体作为保护气氛;2)、在光照的情况下,通入氯气,使三氯氢硅与氯气进行反应;3)、光照数小时,至反应容器中的四氯化硅的三氯氢硅含量达到标准要求,停止反应。
专利地区:北京
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。