一种LED降额曲线的测量系统和测量方法专利登记公告

专利名称：一种LED降额曲线的测量系统和测量方法

摘要：一种LED降额曲线的测量系统和测量方法，属于半导体光电器件的热学性能检测技术领域。本发明的待测LED、热电偶和夹具置于恒温烤箱内，待测LED和热电偶置于夹具上的同一位置。连接数字源表和待测LED，连接数字万用表和热电偶。分别将数字源表、数字万用表、夹具和恒温烤箱与计算机相连接。数字源表提供驱动待测LED的正向电流；恒温烤箱提供稳定的环境温度；热电偶用于探测待测LED附近的实际环境温度；数字万用表用于巡检热电偶的阻值大小；计算机负责收集、处理相关数据，并向用户输出图形化的降额曲线。同现有技术相比，本发明具有

专利类型：发明专利

专利号：CN201010622188.5

专利申请（专利权）人：同方光电科技有限公司

专利发明（设计）人：马亮

主权项：一种LED降额曲线的测量系统，其特征在于，它包括数字源表(1)、恒温烤箱(2)、热电偶(5)、夹具(4)、数字万用表(6)、计算机(7)以及待测LED(3)，所述待测LED(3)、热电偶(5)和夹具(4)置于恒温烤箱(2)内，待测LED(3)和热电偶(5)置于夹具(4)上的同一位置，使用四线法连接数字源表(1)和待测LED(3)，使用四线法连接数字万用表(6)和热电偶(5)，分别将数字源表(1)、数字万用表(6)、夹具(4)和恒温烤箱(2)与计算机(7)相连接，数字源表(1)提供驱动待测LED(3)的正向

专利地区：北京