用等离子体原子发射光谱仪测定4～5N高纯锡中杂质的方法专利登记公告

专利名称：用等离子体原子发射光谱仪测定4～5N高纯锡中杂质的方法

摘要：一种用等离子体原子发射光谱仪测定4～5高纯锡中杂质的方法，方法如下：称取一个单位的试样于烧杯中加入王水溶解，溶解尽干后补加盐酸继续低温加热，重复两遍，最后补加盐酸，转入100mL容量瓶中，用去离子水定容到刻度待测；用事先配制好的由低到高浓度的标准工作曲线留用备测；开启等离子体原子发射光谱仪，开启循环水泵，打开分析控制软件，进入“标准曲线法”控制程序，在谱线库中选择用于测定的谱线，设定曲线浓度值，全波段扫描，按低到高浓度顺序将标准工作曲线的试样溶液依次吸入仪器，每次吸入后此时点击测试键得到该点的初始曲线点，

专利类型：发明专利

专利号：CN201010623791.5

专利申请（专利权）人：北京有色金属与稀土应用研究所

专利发明（设计）人：郅富国;王冉;姚映君

主权项：一种用等离子体原子发射光谱仪测定高纯锡中杂质的方法，其步骤如下：1)预置洁净的测试环境；2)取高纯锡试样并清洁试样，干燥待用；3)制备高纯锡试样溶液，浓度值为C；4)将等离子体原子发射光谱仪开机预热半小时，开启循环水泵，打开分析控制软件，设置工作参数，点击“点火”按钮，形成稳定的等离子炬焰；选择进入“标准曲线法”控制程序，在待测元素的谱线库中选择用于测定的谱线，输入曲线各点的浓度值；进行全波段扫描，完成光路校正后，设定重复测量次数；5)按由低到高浓度顺序将标准工作曲线各点的待测试样溶液依次吸入仪器，每次吸

专利地区：北京