用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法专利登记公告

专利名称：用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法

摘要：本发明涉及用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于具体方法如下：加入硫酸溶解待测纯银试样；待试样完全溶解后，加盐酸，煮沸至澄清，冷却，分离试样的基体银；沉淀细化；补加10％的盐酸，用去离子水定容到刻度；启动电感耦合等离子体发射光谱仪，打开分析控制软件，点击“点火”按钮，形成稳定的等离子炬焰，然后进行全波段扫描，完成光路校正后，选择进入数据控制程序，选择待测元素的谱线，设定曲线浓度值，依次浓度由低到高将标准曲线溶液进行测定，测定后即可在数据状态栏得出相关参数。该方法具有耗费样品少、测试周

专利类型：发明专利

专利号：CN201010623793.4

专利申请（专利权）人：北京有色金属与稀土应用研究所

专利发明（设计）人：闫雅坤;陈晓宇;韩鹏

主权项：一种用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于：选择硫酸溶解待测纯银样品，其后用盐酸沉淀溶液中存在的银离子，采用基体分离的方法测定高纯银中的痕量杂质元素。

专利地区：北京