ICP光谱分析系统及方法专利登记公告

专利名称：ICP光谱分析系统及方法

摘要：本发明提供了一种ICP光谱分析系统，包括炬管、光室，所述炬管设置在炬室内；进一步包括：压力或时间测量单元，输出端连接判断人员设备，所述压力测量单元设置在所述光室内；进气阀门，设置在光室的进气口上，输入端连接控制人员设备；气源通过进气阀门与所述光室连通；排气阀门，设置在光室的排气口，输入端连接控制人员设备；判断人员设备，用于根据压力或时间测量单元传送来的信号而判断所述光室内的吹扫气体是否满足测量的要求，判断结果传送来控制人员设备；控制人员设备，用于根据接收到的所述判断结果而控制所述进气阀门、排气阀门的开启、

专利类型：发明专利

专利号：CN201110461598.0

专利申请（专利权）人：聚光科技(杭州)股份有限公司

专利发明（设计）人：陈文益;俞晓峰

主权项：ICP光谱分析系统，所述分析系统包括炬管、光室，所述炬管设置在炬室内；其特征在于，所述分析系统进一步包括：压力或时间测量单元，输出端连接判断人员设备，所述压力测量单元设置在所述光室内；进气阀门，所述进气阀门设置在光室的进气口上，输入端连接控制人员设备；气源通过所述进气阀门与所述光室连通；排气阀门，所述排气阀门设置在所述光室的排气口，输入端连接控制人员设备；判断人员设备，所述判断人员设备用于根据压力或时间测量单元传送来的信号而判断所述光室内的吹扫气体是否满足测量的要求，判断结果传送来控制人员设备；控制人员设

专利地区：浙江