X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置专利登记公告

专利名称：X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置

摘要：本发明公开了一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置，在X光管与测量样品盒之间，设置一个受仪器控制的参比机构；按待测金属元素压制成的参比样品安装在该机构上；使用X荧光分析仪测量参比样品，得到参比样的脉冲计数率作为原始目标强度值。X荧光分析仪在线运行测量时，每次测量矿浆样本之前都要测量一次参比样的计数率，并将此计数率与参比样原始目标强度的比值作为标准化系数，利用计算的标准化系数对每次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修正，得到在线矿浆测量的标准脉冲计数率。能够实时补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂

专利类型：发明专利

专利号：CN201019114089.3

专利申请（专利权）人：北京矿冶研究总院

专利发明（设计）人：赵宇;周俊武;徐宁;赵建军;高扬;李传伟;杨树亮

主权项：一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法，其特征在于，包括步骤：首先，按照待测金属元素及其含量制备参比样品，并用X荧光分析仪多次测量所述参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率；然后，取多次测量的参比样品中的待测金属元素的脉冲计数率的平均值作为原始目标强度值；之后，在所述X荧光分析仪每次测量待测样品前，首先测量一次所述参比样品，并将该次测量的待测金属元素的脉冲计数率与所述原始目标强度值进行比较，将比较的结果作为本次测量的修正系数；最后，测量待测样品，并用所述修正系数对本次测量待测样品的结果进行修正。

专利地区：北京