半导体基片导电自动测试装置专利登记公告

专利名称：半导体基片导电自动测试装置

摘要：本实用新型涉及半导体制造技术领域，具体地说是涉及一种半导体基片导电自动测试装置。半导体基片导电自动测试装置，其特征是：它包括测试平台，测试平台两侧具有多个接触端，接触端连接电阻测试电脑，所述每侧的接触端连接在一个平板上，接触端和平板之间还有弹簧，平板经曲轴连接电动机，电机连连接控制开关。进一步的讲，所述的测试平台的侧部具有光电管，光电管连接控制开关，所述的测试平台前部还具有传送带。具有可以快速自动的检测半导体基片多组线路的导电情况的优点，使用方便。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201020574639.8

专利申请（专利权）人：河南久大电子电器有限公司

专利发明（设计）人：张志辉;宋暖;欧阳进民

主权项：半导体基片导电自动测试装置，其特征是：它包括测试平台，测试平台两侧具有多个接触端，接触端连接电阻测试电脑，所述每侧的接触端连接在一个平板上，接触端和平板之间还有弹簧，平板经曲轴连接电动机，电机连连接控制开关。

专利地区：河南