半导体基片导电测试仪自动对接装置专利登记公告
专利名称：半导体基片导电测试仪自动对接装置
摘要：本实用新型涉及一种半导体基片导电测试仪自动对接装置。其包括测试平台，所述测试平台两侧的接触端连接在一个平板上，接触端和平板之间还有弹簧，其特征是：所述的一侧的平板经曲轴连接电动机，电机连连接控制开关，另一侧的平板后部还具有一个固定板，平板和固定板之间有弹性部件。这样的半导体基片导电测试仪自动对接装置具有结构简单、不易损坏、使用方便的优点。
专利类型：实用新型专利
专利号：CN201020578536.9
专利申请（专利权）人：河南久大电子电器有限公司
专利发明（设计）人：张志辉;宋暖;欧阳进民
主权项：半导体基片导电测试仪自动对接装置，包括测试平台，所述测试平台两侧的接触端连接在一个平板上，接触端和平板之间还有弹簧，其特征是：所述的一侧的平板经曲轴连接电动机，电机连连接控制开关，另一侧的平板后部还具有一个固定板，平板和固定板之间有弹性部件。
专利地区：河南
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目，不代表该专利由我公司代理取得，上述专利权利属于专利权人，未经（专利权人）许可，擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利，请搜索专利权人联系方式，获得专利权人的授权许可。