用于确定物品及其表面的特性的测量仪器和方法专利登记公告
专利名称:用于确定物品及其表面的特性的测量仪器和方法
摘要:一种用于通过光辐射来确定物体的表面的特征的测量装置,其中测量装置包括光辐射源以及接收从正在测量的表面反射的辐射的检测器。此外,测量装置包括发射光辐射处理单元,调整该发射光辐射处理单元,以将由光源发射的光辐射分成分离的波长,并在与正在测量的表面的法向不同的方向上将所述分离的波长引导至正在测量的物体,从而使所述波长中的至少最短波长和最长波长在正在测量的表面的法向方向上聚焦在所测量的物体的表面的不同半部和不同高度上。另外,测量装置包括反射光辐射处理单元,调整该反射光辐射处理单元,以至少在镜面反射的方向上接收从所
专利类型:发明专利
专利号:CN201080045557.7
专利申请(专利权)人:VTT技术研究中心
专利发明(设计)人:卡里·涅梅莱;海莫·凯雷宁
主权项:一种用于通过光辐射来确定所测量的物体的一个以上的特性的测量装置,其中,所述测量装置包括:至少一个光辐射源,用于将光辐射发射至所测量的物体,以及至少一个检测器,用于接收从所测量的物体反射的辐射并用于产生与所述辐射的强度成比例的电信号,其特征在于,所述测量装置还包括:(被发射的)光辐射处理单元,调整所述被发射的光辐射处理单元,以将由所述光辐射源发射的光辐射分成分离的波长,并在与正在测量的表面的法向不同的方向上将所述分离的波长引导至所测量的物体,从而使所述波长中的至少最短波长和最长波长在正在测量的表面的法向方向
专利地区:芬兰
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。