检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪专利登记公告

专利名称：检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪

摘要：本发明提供了一种用于检测带电粒子的检测装置，该检测装置包括：一个次级粒子产生器，用于响应于接收到进入的带电粒子而产生次级带电粒子；一个带电粒子检测器，用于接收并检测该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子；一个光子产生器，用于响应于接收到该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子而产生光子；以及一个光子检测器，用于检测该光子产生器所产生的光子。还提供了包括该检测装置的一种质谱仪、该检测装置在TOF质谱法中的用途以及改进一种TOF质谱仪的动态检测范围的方法。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080049069.3

专利申请（专利权）人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

专利发明（设计）人：A·马卡洛夫;A·詹纳考普洛斯

主权项：一种用于检测带电粒子的检测装置，该检测装置包括：一个次级粒子产生器，用于响应于接收到进入的带电粒子而产生次级带电粒子；一个带电粒子检测器，用于接收并检测该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子并且由此产生一种输出；一个光子产生器，用于响应于接收到该次级粒子产生器所产生的次级带电粒子而产生光子；以及一个光子检测器，用于检测该光子产生器所产生的光子并且由此产生一种输出；其中该带电粒子检测器包括一个用于接收这些次级带电粒子的电极，并且该电极包括一种与该光子产生器相关联的导电材料；并且其中来自该带电粒子检测器和光子检

专利地区：德国