基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声专利登记公告

专利名称：基于光延迟测量射频、微波或毫米波信号中的相位噪声

摘要：用于基于光子延迟测量RF、微波或毫米波信号中的相位噪声的技术和设备。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080049101.8

专利申请（专利权）人：光电波公司

专利发明（设计）人：丹尼·埃利亚胡;鲁特·马利基;大卫·塞德尔

主权项：一种用于测量信号中的相位噪声的设备，包括：输入端口，从待测振荡器接收振荡信号；第一光子信号处理分支电路，处理所述振荡信号以产生第一分支输出信号；第二光子信号处理分支电路，处理所述振荡信号以产生第二分支输出信号，其中，所述第一和第二光子信号处理分支电路共享光学模块，所述光学模块包括产生第一和第二波长的连续波激光的共享的激光器、调制第一和第二波长的激光以产生载有振荡信号的调制激光的共享的光调制器、从所述共享的光调制器接收调制激光的共享的光学延迟器以及波长选择光学设备，所述波长选择光学设备将通过所述共享的光学延

专利地区：美国