低信号环境中的电容开路测试专利登记公告

专利名称：低信号环境中的电容开路测试

摘要：本发明公开了一种在低信号环境中对电连接进行电容测试的改进系统。所述系统包括提高电容探针灵敏度的结构。一个结构是隔离物，所述隔离物被设置为允许所述探针部分地插入所述元件中，而不会接触所述引脚。所述隔离物可以是所述探针上的卡圈，所述卡圈接触所述元件的所述壳体、接触所述电路组件的所述基底或所述两者。在一些其他实施例中，所述隔离物可以是延伸超过所述感测板的所述表面的冒口，所述冒口接触所述元件、所述元件的冒口部分或两者的组合。所述隔离物通过在所述探针的感测板与测试中的引脚之间形成小间隙提高灵敏度，而没有损坏所述引脚

专利类型：发明专利

专利号：CN201080058608.X

专利申请（专利权）人：泰拉丁公司

专利发明（设计）人：安东尼·J·舒托

主权项：一种配置电路组件以进行测试的方法，所述电路组件包括元件，所述元件具有腔体和设置在所述腔体内的多个引脚，所述方法包括以下行为：将探针部分地插入所述腔体中，所述探针包括感测板；以及用隔离物限制所述探针的进一步插入，以便将所述感测板布置在所述多个引脚附近，同时阻止所述探针与所述多个引脚接触。

专利地区：美国