用于密集随机采样成像的系统和方法专利登记公告

专利名称：用于密集随机采样成像的系统和方法

摘要：本发明的实施例涉及成像技术，并且具体地说，涉及随着时间检测比较弱的信号并使用所检测的信号确定信号发射器位置的成像系统。本发明的具体实施例涉及用于成像荧光团标记样本以便以比与光学显微术相关联的衍射限制分辨率大得多的分辨率产生样本图像的方法和系统。本发明的实施例采用交叠发射器图像消歧以允许从密集布置的发射器收集数据，这大大减少了用于产生中间图像的数据收集时间以及在计算上构造高分辨率最终图像所需的中间图像数。本发明的附加实施例采用分层图像处理技术进一步分辨和判读消歧图像。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080058539.2

专利申请（专利权）人：应用精密公司

专利发明（设计）人：G. 达努瑟;P. C. 古德文

主权项：?一种成像系统，包括：光检测子系统，照射样本或部分样本以激活所述样本内的光发射器，从所述光发射器激发光发射，并记录一段时间上所述样本或所述部分样本内的光发射器的中间输出图像；图像生成子系统，处理所述中间输出图像以识别并记录所述样本或所述部分样本内的所述光发射器的初始确定的位置，并且迭代地计算根据光发射器位置模型计算的输出图像，以便对所述中间输出图像中的交叠光发射器图像消歧以产生包含所述样本或所述部分样本内所述光发射器的位置指示的合成图像；以及图像判读子系统，迭代地将几何图元拟合到由所述图像生成子系统产生的

专利地区：美国