具有验证单元的光谱仪专利登记公告

专利名称：具有验证单元的光谱仪

摘要：可通过确定第一光强度数据偏离存储的数据集合未超出预定的阈值偏差，来验证包括光源和探测器的分析系统的有效状态，其中所述第一光强度数据量化了来自光源的光在至少一次通过验证单元中的参考气体和零气体中的每一个之后，在探测器接收的所述光的第一强度。存储的数据集合表示在分析系统上进行的先前的仪器验证过程中采集的至少一个先前的测量。参考气体可包括已知量的分析物。可通过校正第二光强度数据来确定样本气体中的分析物的浓度，所述第二光强度数据量化了光至少一次通过验证单元中的参考气体和包含未知浓度的分析物化合物的样本气体中的每一

专利类型：发明专利

专利号：CN201180002000.X

专利申请（专利权）人：光学传感器公司

专利发明（设计）人：A·费蒂施;L·克勒;X·刘;M·施伦佩尔;K·B·赫布利

主权项：一种分析系统，包括：验证单元，该验证单元放置为使得由光源产生的光在所述光从光源到探测器的传输过程中至少一次地通过该验证单元，该验证单元包含参考气体，所述参考气体包括已知量的分析物化合物，所述光源在包括所述分析物化合物的光谱吸收特征的波长范围内发射所述光；以及控制器，用于执行仪器验证过程和样本分析过程，该仪器验证过程包括：接收第一光强度数据，该第一光强度数据量化在所述光至少一次通过验证单元中的参考气体和零气体中的每一个时在所述探测器接收的所述光的第一强度，所述零气体具有至少一个已知且可忽略的第一光吸收率特性

专利地区：美国