一种存储芯片的修复装置和方法专利登记公告

专利名称：一种存储芯片的修复装置和方法

摘要：本发明提供了一种存储芯片的修复装置和方法，其中的修复装置位于存储芯片内部，包括：数据比较模块，用于在自动测试设备并行读取存储芯片时，对所处存储芯片的当前地址中的数据与预设目标数据进行比较；错误地址寄存器，用于在该当前地址中的数据不同于预设目标数据时，将该当前地址作为错误地址进行记录；及保存模块，用于在所处存储芯片读取完毕时，保存所述错误地址寄存器中的错误地址。本发明能够实现存储芯片的并行修复，从而能够提高存储芯片修复的速度和成功率。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110005399.9

专利申请（专利权）人：北京兆易创新科技有限公司

专利发明（设计）人：苏志强;舒清明

主权项：一种存储芯片的修复装置，其特征在于，位于存储芯片内部，包括：数据比较模块，用于在自动测试设备并行读取存储芯片时，对所处存储芯片的当前地址中的数据与预设目标数据进行比较；错误地址寄存器，用于在该当前地址中的数据不同于预设目标数据时，将该当前地址作为错误地址进行记录；及保存模块，用于在所处存储芯片读取完毕时，保存所述错误地址寄存器中的错误地址。

专利地区：北京