串行外围设备接口总线测试系统及方法专利登记公告
专利名称:串行外围设备接口总线测试系统及方法
摘要:一种SPI总线测试系统及方法,该系统包括:获取模块,用于获取SPI总线的数据信号、时钟信号及选择信号的波形;截取模块,用于根据选择信号的波形从数据信号与时钟信号的波形中截取数据信号与时钟信号的有效波形;叠加模块,用于以时钟信号的各个上升沿为基准,向前及向后各推移指定时间,从数据信号与时钟信号的有效波形中截取各段数据信号与时钟信号的有效波形,并叠加得到数据信号与时钟信号的眼图;绘制模块,用于绘制数据信号的规范眼图;判断模块,用于判断数据信号的眼图与规范眼图是否相交,以确定SPI总线的数据传输是否正常;及输出
专利类型:发明专利
专利号:CN201110057669.0
专利申请(专利权)人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
专利发明(设计)人:何瑞雄
主权项:一种串行外围设备接口(Serial?Peripheral?Interface,SPI)总线测试系统,所述SPI总线包括数据信号、时钟信号及选择信号,其特征在于,该系统包括:获取模块,用于获取SPI总线的数据信号、时钟信号及选择信号的波形;截取模块,用于根据选择信号的波形从数据信号与时钟信号的波形中截取数据信号与时钟信号的有效波形;叠加模块,用于以时钟信号的各个上升沿为基准,向前及向后各推移指定时间,从数据信号与时钟信号的有效波形中截取各段数据信号与时钟信号的有效波形,将截取的各段数据信号与时钟信号的有效波
专利地区:广东
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。