一种TFT阵列基板检测方法及检测装置专利登记公告

专利名称：一种TFT阵列基板检测方法及检测装置

摘要：本发明实施例提供了一种TFT阵列基板检测方法及检测装置，涉及液晶显示器制造领域，能够提高TFT阵列基板数据线的不良完全检出率。该检测方法包括：向TFT阵列基板上的数据线提供正负交替的周期性测试电压信号；从每条数据线的一端，以规定的距离间隔连续采集电压至另一端，得到连续的采集电压值；根据所述采集电压值的一个或多个突变，确定所述数据线出现一个或多个不良。本发明实施例用于TFT阵列基板检测。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110221361.5

专利申请（专利权）人：北京京东方光电科技有限公司

专利发明（设计）人：裴晓光;卜云龙

主权项：一种TFT阵列基板检测方法，其特征在于，包括：向TFT阵列基板上的数据线提供正负交替的周期性测试电压信号；从每条数据线的一端，以规定的间隔连续采集电压至另一端，得到连续的采集电压值；根据所述采集电压值的一个或多个突变，确定所述数据线出现一个或多个不良。

专利地区：北京