一种检测液晶基板的设备及方法专利登记公告

专利名称：一种检测液晶基板的设备及方法

摘要：本发明实施例提供一种检测液晶基板的设备及方法，涉及液晶显示技术领域，能够对FFS型液晶基板进行加载电信号的检测，提高了良品率。本发明实施例提供的设备包括：透明载台、第一偏光片、第二偏光片和背光源，还包括：第一透明电极层，位于所述透明载台上方；第二透明电极层，位于所述透明载台下方；信号加载单元，与所述第一透明电极层、第二透明电极层电连接，用于向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间具有使所述透明载台上的待测液晶基板的液晶分子偏转的电场。本发明实施例用于检

专利类型：发明专利

专利号：CN201210100178.4

专利申请（专利权）人：京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司

专利发明（设计）人：杨银勇;金楻

主权项：一种检测液晶基板的设备，包括：透明载台，用于承载待测液晶基板；第一偏光片，位于所述透明载台上方；第二偏光片，位于所述透明载台下方；背光源，位于所述第二偏光片下方，所述背光源发出的光线穿过所述第二偏光片、所述透明载台到达所述第一偏光片；其特征在于，所述设备还包括，第一透明电极层，位于所述透明载台上方；第二透明电极层，位于所述透明载台下方；信号加载单元，与所述第一透明电极层、第二透明电极层电连接，用于向所述第一透明电极层、第二透明电极层加载电信号，以使所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间具有使所述透明载

专利地区：北京