用于存储器的测试系统及测试方法专利登记公告

专利名称：用于存储器的测试系统及测试方法

摘要：本发明提供一种用于存储器的测试系统及测试方法，该测试系统包含：一控制装置、一地址产生装置、一数据扰乱装置以及一比较装置。该控制装置用以写入一第一数据至一存储器。该地址产生装置用以产生相应于该存储器的多个第一地址及多个第二地址。该数据扰乱装置利用第一地址扰乱第一数据，以取得一第二数据，及利用第二地址扰乱第二数据，以取得一第三数据。该比较装置用以比较第三数据及第一数据。利用本发明，地址可简单地及随机地以一维方式产生以模拟测试环境，且关于地址的参数可编程规划以应用至不同型式的存储器，以延展测试存储器的应用范围。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110230338.2

专利申请（专利权）人：南亚科技股份有限公司

专利发明（设计）人：杨永庆

主权项：一种用于存储器的测试系统，包含：一控制装置，用以写入一第一数据至一存储器；一地址产生装置，用以产生相应于该存储器的多个第一地址及多个第二地址；一数据扰乱装置，利用第一地址扰乱第一数据，以取得一第二数据，及利用第二地址扰乱第二数据，以取得一第三数据；以及一比较装置，用以比较第三数据及第一数据。

专利地区：台湾