测试装置专利登记公告

专利名称：测试装置

摘要：本发明提供一种测试装置，用于对被测试器件进行测试，其可以防止过剩电流流入到被测试器件中。所述测试装置具有：用于产生向所述被测试器件供给电源电压的电源部；设置在从所述电源部至所述被测试器件的路径中的感应负载部；相对于所述感应负载部而言与所述被测试器件并联连接的第一半导体开关；以及在切断对所述被测试器件供给的电源电压的情况下，导通所述第一半导体开关的控制部。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110403993.3

专利申请（专利权）人：爱德万测试株式会社

专利发明（设计）人：天沼圣司

主权项：一种测试装置，其用于对被测试器件进行测试，具有：用于产生向所述被测试器件供给电源电压的电源部；设置在从所述电源部至所述被测试器件的路径中的感应负载部；设置在从所述电源部至所述被测试器件的路径中，与所述被测试器件并联连接的第一半导体开关；以及在切断对所述被测试器件供给的电源电压的情况下，导通所述第一半导体开关的控制部。

专利地区：日本