测试装置专利登记公告

专利名称：测试装置

摘要：本发明提供一种测试被测试器件的测试装置，其在测试异常时高速地截止提供给被测试器件的电源。所述测试装置包括，电源部，其产生提供给被测试器件的电源电压；感应负载部，其设置在电源部和被测试器件之间的路径上；多个半导体开关，其串联连接在感应负载部和被测试器件之间的路径上；控制部，其在截止向被测试器件提供电压时，断开多个半导体开关。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110403994.8

专利申请（专利权）人：爱德万测试株式会社

专利发明（设计）人：桥本健司

主权项：一种测试装置，用于测试被测试器件，其包括：电源部，其产生提供给所述被测试器件的电源电压；感应负载部，其设置在所述电源部和所述被测试器件之间的路径上；多个半导体开关，其串联连接在所述感应负载部和所述被测试器件之间的路径上；以及控制部，其在截止向所述被测试器件提供电压时，断开所述多个半导体开关。

专利地区：日本