测量触摸屏上导电膜的方法专利登记公告

专利名称：测量触摸屏上导电膜的方法

摘要：本发明公开一种测量触摸屏上导电膜的方法，包括步骤：a）预设不同面电阻值所对应膜厚度值；b）利用阵列排列探针于导电膜上采集n个电阻值；c）摒弃边缘区域之控针的的电阻值；d）在非边缘区的电阻值中任选至少三个相邻探针的电阻值，计算出所选之电阻值形成的面电阻值，依该方法重复对前述非边缘区的其它电阻值进行选择计算，获得m个面电阻值；e）比较上述m个面电阻值，若各个面电阻值差值在阙值范围内，则视为导电膜的厚度为均匀，否则为不均匀；f）将上述m个面电阻值进行优化计算，获得面电阻值平均值并依前述步骤a)的预设找出对应的膜

专利类型：发明专利

专利号：CN201110422251.5

专利申请（专利权）人：东莞中逸电子有限公司

专利发明（设计）人：杨世光

主权项：一种测量触摸屏上导电膜的方法，其特征在于：包括如下步骤：a）预设不同面电阻值所对应的膜厚度值；b）利用阵列排列的探针于导电膜上采集n?个电阻值，各电阻值分别为相邻两探针之间的电阻值，形成电阻值集合；c）摒弃边缘区域之控针的的电阻值；d）在非边缘区的电阻值中任选至少三个相邻探针的电阻值，计算出该所选之电阻值形成的面电阻值，依该方法重复对前述非边缘区的其它电阻值进行选择计算，获得?m?个面电阻值；e）比较上述?m?个面电阻值，若各个面电阻值的差值在阙值范围内，则视为导电膜的厚度为均匀，否则为不均匀；f）将上述

专利地区：广东