一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法专利登记公告

专利名称：一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法

摘要：本发明公开了一种集成电路测试仪在线编程动态配置方法，通过在下位机中设置启动闪存选择引脚，用于在测试程序出错的情况下，微处理器直接从NorFlash闪存中取指令执行，等待下载测试程序，用于集成电路的测试；而正常的情况下，通过将NandFlash闪存的数据直接拷贝到外接的SDRAM存储器运行，进行测试任务，如果在测试过程中接收到上位机发送的测试程序，则自动将下载的测试程序存入NandFlash闪存中并覆盖之前的测试程序，然后自动重启并根据新的测试程序进行测试。这样，就不需要进行存储器切换，因此可快速且可根据用

专利类型：发明专利

专利号：CN201110422947.8

专利申请（专利权）人：电子科技大学

专利发明（设计）人：詹惠琴;商洪亮;杨建军;周建;王寅;古军;罗时雨;康波

主权项：一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、在集成电路测试仪的上位机中，上电后用户可以选择是否重新编写测试程序，如果重新编写测试程序，则上位机将新编写的测试程序进行编译后通过USB接口向下位机下载，下载成功后，等待下位机通过USB接口返回测试结果，如果有返回测试结果，则接收测试结果并保存；如果不需要重新编写测试程序，则直接等待下位机通过USB接口返回测试结果，如果有返回测试结果，则接收测试结果并保存；(2)、在集成电路测试仪的下位机中，将微处理器的一外部引脚定义为启动闪存选

专利地区：四川