基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路专利登记公告

专利名称：基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路

摘要：本发明涉及一种基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路，包括PXI测试设备和被测射频功率放大器，PXI测试设备和被测射频功率放大器之间连接有谐波信号获取电路，谐波信号获取电路和PXI测试设备之间还连接有基波和载波抑制电路，谐波信号获取电路采用耦合器实现，耦合器从被测射频功率放大器输出信号上耦合获取完整的信号，谐波信号获取电路获取的信号经基波和载波抑制电路进入PXI测试设备。采用本电路的测试板卡，可降低谐波测试部分的电路复杂性，进而降低了测试板卡的成本，同时经过本电路处理过的谐波信号对PXI测试设备的

专利类型：发明专利

专利号：CN201110445550.0

专利申请（专利权）人：镇江艾科半导体有限公司

专利发明（设计）人：杜占坤;王刚

主权项：基于PXI测试设备的射频功率放大器谐波测试电路，包括PXI测试设备(4)和被测射频功率放大器(1)，所述的PXI测试设备(4)和被测射频功率放大器(1)之间连接有谐波信号获取电路(2)，其特征在于，谐波信号获取电路(2)和PXI测试设备(4)之间还连接有基波和载波抑制电路(3)，所述的谐波信号获取电路(2)采用耦合器实现，耦合器从被测射频功率放大器(1)输出信号上耦合获取完整的信号，谐波信号获取电路(2)获取的信号经基波和载波抑制电路(3)进入PXI测试设备(4)。

专利地区：江苏