一种基于光纤复合干涉的高精度绝对位移测量系统专利登记公告

专利名称：一种基于光纤复合干涉的高精度绝对位移测量系统

摘要：本发明公开了一种基于光纤复合干涉的高精度绝对位移测量系统，属于光学测量技术领域。所述系统由宽带光源、光纤隔离器、3dB-耦合器、二个自准直镜、光纤光栅、二个反射镜、两个探测器、环行器、一维平移台、压电陶瓷、反馈控制电路、信号发生器、信号处理电路、A/D转换卡、计算机和结果输出组成；本发明利用光纤光栅反射满足布拉格条件的波长的光，使光纤干涉仪同时工作在低相干干涉和高相干干涉状态，用低相干干涉信号决定被测位移的幅值，使测量量程不受光波波长的限制，并实现绝对测量；用高相干干涉信号测量位移的值，并用反馈控制抑制环

专利类型：发明专利

专利号：CN201110439810.3

专利申请（专利权）人：北京交通大学

专利发明（设计）人：谢芳;刘义秦;马森;李昭莹

主权项：一种基于光纤复合干涉的高精度绝对位移测量系统，其特征在于它是由宽带光源(S1)、光纤隔离器(GL)、3dB?耦合器(N)、二个自准直镜(G3，G4)、光纤光栅(FBG)、二个反射镜(G1，G2)、两个探测器(PD1，PD2)、环行器(H)、一维平移台(M)、压电陶瓷(PZT)、反馈控制电路(B4)、信号发生器(B5)、信号处理电路(B1)、A/D转换卡(B2)、计算机(B3)和结果输出(B6)组成；宽带光源(S1)发出的光经过光纤隔离器(GL)、3dB?耦合器(N)后被分成两路，这两路光分别被自准直镜(G

专利地区：北京