用于探测电磁辐射的装置专利登记公告

专利名称：用于探测电磁辐射的装置

摘要：本发明公开了一种用于探测电磁辐射的装置，其包括主动辐射热测量计(7)以及与主动辐射热测量计(7)相同的参考辐射热测量计(10)，主动辐射热测量计(7)具有对所述电磁辐射(8)敏感的第一元件(12)，参考辐射热测量计(10)具有对所述电磁辐射(8)敏感的第二元件(13)。主动辐射热测量计(7)和参考辐射热测量计(10)彼此靠近地排布在同一基板(14)上。盖(15)至少覆盖第二敏感元件(13)的暴露于电磁辐射(8)的部分并在所述第二敏感元件(13)和该盖(15)之间形成中空空间。盖(15)的内壁(17)由吸收

专利类型：发明专利

专利号：CN201110445398.6

专利申请（专利权）人：原子能和代替能源委员会

专利发明（设计）人：J-L·奥夫里尔-巴菲特;J·迈兰

主权项：一种用于探测电磁辐射的装置，包括位于单个基板(14)上的：?主动辐射热测量计(7)，装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第一元件(12)，?参考辐射热测量计(10)，与主动辐射热测量计(7)相同，装配有对所述电磁辐射(8)敏感的第二元件(13)，?盖(15)，具有外壁(16)和面向第二敏感元件(13)的内壁(17)，所述盖(15)至少覆盖所述第二敏感元件(13)的暴露于所述电磁辐射(8)的部分并布置有分离所述第二敏感元件(13)和所述内壁(17)的中空空间，以及，?反射罩(18)，形成暴露于所述电磁辐射(8)

专利地区：法国