具有用于列ADC的芯片上测试模式的图像处理系统专利登记公告

专利名称：具有用于列ADC的芯片上测试模式的图像处理系统

摘要：本发明提供了一种具有用于列ADC的芯片上测试模式的图像处理系统。所述图像处理系统，包括：像素阵列，所述像素阵列被配置为包括多个正常像素列和至少一个测试像素列；多个列模数转换器(ADC)，所述多个列模数转换器被配置为与正常像素列相对应，并将模拟输入信号转换成数字信号；以及开关块，所述开关块被配置为在正常模式下将正常像素列的输出信号提供给相对应的列ADC的输入端，并在测试模式下将测试像素列的输出信号共同地提供给列ADC的输入端，其中，测试像素列产生行与行之间具有微小电压差的信号。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110454078.7

专利申请（专利权）人：海力士半导体有限公司

专利发明（设计）人：杰夫·雷辛斯基;一兵·米歇尔·王;李湘洙

主权项：一种图像处理系统，包括：像素阵列，所述像素阵列被配置为包括多个正常像素列和至少一个测试像素列；多个列模数转换器ADC，所述多个列ADC被配置为与所述正常像素列相对应，并将模拟输入信号转换成数字信号；以及开关块，所述开关块被配置为在正常模式下将所述正常像素列的输出信号提供给相对应的所述列ADC的输入端，并在测试模式下将所述测试像素列的输出信号共同地提供给所述列ADC的输入端，其中，所述测试像素列产生行与行之间具有微小电压差的信号。

专利地区：韩国