中子探测器专利登记公告

专利名称：中子探测器

摘要：本发明公开了一种中子探测器。其中，中子探测器包括中子慢化体，其适于吸收通过其中的X射线，并将快中子慢化为热中子；和热中子探测器，其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息。本发明通过设置中子慢化体能够排除X射线对快中子测量的干扰，从而提高了中子测量的准确性。并通过同时获得X射线和中子的两种不同的衰减信息，提高了对检测物体的识别能力。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110459081.8

专利申请（专利权）人：同方威视技术股份有限公司;清华大学

专利发明（设计）人：李元景;杨祎罡;李铁柱;张勤俭;吴彬

主权项：一种用于物质识别的中子探测器，包括：中子慢化体，其适于吸收通过其中的X射线，并将快中子慢化为热中子；和热中子探测器，其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息，其基于下列公式识别物质，其中，t为被检测物体的厚度；μn(t)为光中子的衰减系数；μX(t)为X射线的衰减系数；In(t)为入射光中子在被检测物体厚度t处的强度,?In(0)则为入射光中子的未衰减强度；IX(t)为入射X射线在被检测物体厚度t处的强度,?IX(0)则为入射X射线的未衰减强度。787167dest_path_image002.jp

专利地区：北京