用于辐射检测器的2D-准直仪及其制造方法专利登记公告

专利名称：用于辐射检测器的2D-准直仪及其制造方法

摘要：本发明涉及一种用于辐射检测器(20)的2D-准直仪(1)，具有串列布置的若干2D-准直仪模块(2，3)，其中，相邻的2D-准直仪模块(2，3)为产生牢固的机械连接(4)而在分别相向的模块侧面(5)相互粘结，并且其中，外侧的2D-准直仪模块(3)在分别外露的模块侧面(6)具有用于相对检测器机构(11)夹持2D-准直仪(1)的夹持元件(7)。由此，为相对于辐射传感器模块(21)去耦合地集成到辐射检测器(20)中以及为在避免检测信号由于射入的射线与2D-准直仪(1)的相互作用而受到干扰的同时以较小的开销维护所述

专利类型：发明专利

专利号：CN201110463276.X

专利申请（专利权）人：西门子公司

专利发明（设计）人：A·弗伦德;C·伯翰;G·肖帕;J·莱格

主权项：一种用于辐射检测器(20)的2D?准直仪(1)，带有若干串接布置的2D?准直仪模块(2，2′，3)，其中，相邻的2D?准直仪模块(2，3)为了建立牢固的机械连接(4)在分别相向的模块侧面(5)相互粘结，并且其中，外侧的2D?准直仪模块(3)在分别外露的模块侧面(6)具有用于相对检测器机构(11)夹持所述2D?准直仪(1)的夹持元件(7)。

专利地区：德国