一种测量地球反照辐射照度的方法专利登记公告

专利名称：一种测量地球反照辐射照度的方法

摘要：本发明公开了一种测量地球反照辐射照度的方法，该方法以地球地心为坐标原点，建立地球坐标系，根据卫星轨道参数和星敏感器在星上的安装位置，确定卫星和太阳在特定时刻的在地球坐标系中的经纬度位置；对地球表面进行经纬度划分，选取地表小面元，判断该小面元是否能同时即被太阳照射又能被星敏感器遮光罩所视见，若能则通过太阳、面元和星敏感器的辐射传输关系计算该小面元散射的太阳光对星敏感器的杂光影响。遍历地表各面元，并将各面元对星敏感器的杂光影响进行叠加，即可得到地表面元对星敏感器的综合影响，具有计算速度快，测量准确度高的优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110460940.5

专利申请（专利权）人：北京控制工程研究所

专利发明（设计）人：梁士通;钟红军;张春明;唐勇;卢欣;赵春晖;郝云彩;黄欣;李春江;余成武;王晓燕;刘婧;钟俊;李晓;程会艳

主权项：一种测量地球反照辐射照度的方法，其特征在于步骤如下：(1)以地球地心为坐标原点，建立地球坐标系，太阳在地球坐标系中的经纬度位置αsun，βsun，根据卫星轨道参数确定卫星在地球坐标系中的经纬度位置αsat，βsat以及在地球坐标系中的星敏感器光轴指向vst；其中αsun为太阳在地球坐标系中的经度位置，βsun为太阳在地球坐标系中的纬度位置，αsat为卫星在地球坐标系中的经度位置，βsat为卫星在地球坐标系中的纬度位置；(2)对地球表面进行经纬度划分形成M个地表面元ds，M≥10000；(3)任选一个地表面

专利地区：北京