半导体芯片、堆叠型半导体封装体及其制造方法专利登记公告
专利名称:半导体芯片、堆叠型半导体封装体及其制造方法
摘要:本发明公开了一种半导体芯片包括:第一基板,其具有第一表面和背对该第一表面的第二表面;第一测试硅通孔(TSV),从该第一表面到第二表面贯穿该第一基板;以及导电凸起,耦合到该第一测试TSV并从该第二表面突出。
专利类型:发明专利
专利号:CN201110463172.9
专利申请(专利权)人:海力士半导体有限公司
专利发明(设计)人:吴卓根
主权项:一种半导体芯片,包括:第一基板,具有第一表面和与背对该第一表面的第二表面;第一测试硅通孔,从该第一表面到该第二表面贯穿该第一基板;以及导电凸起,耦合到该第一测试TSV并从该第二表面突出。
专利地区:韩国
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。