一种大口径抛物面测量系统专利登记公告

专利名称：一种大口径抛物面测量系统

摘要：本发明涉及一种大口径抛物面测量系统。以克服现有技术存在的成本高、CCD分辨率不能达到测量要求使得测量精度受到限制等问题。本发明可旋转的被测大口径抛物面、镜头、第一分束立方棱镜、第二分束立方棱镜、剪切立方棱镜、遮挡平板和剪切直角棱镜依次设置于同一水平主光路上；被测大口径抛物面反射面的主光路的一侧设置有第三反射镜；第二反射镜、第一分束立方棱镜、成像透镜和调校用摄像系统依次设置于同一竖直光路上；扩束系统和第二分束立方棱镜依次设置于第一反射镜的竖直反射光路上，遮挡平板和图象处理用摄像系统顺序位于剪切立方棱镜的主光

专利类型：发明专利

专利号：CN201210000785.3

专利申请（专利权）人：西安工业大学

专利发明（设计）人：田爱玲;王红军;刘丙才;郑显锋;王春慧;朱学亮;吴世霞

主权项：一种大口径抛物面测量系统，其特征在于：可旋转的被测大口径抛物面（13）、镜头、第一分束立方棱镜（4）、第二分束立方棱镜（5）、剪切立方棱镜（14）、遮挡平板（11）和剪切直角棱镜（17）依次设置于同一水平主光路上；被测大口径抛物面（13）反射面的主光路的一侧设置有第三反射镜（12）；第二反射镜（6）、第一分束立方棱镜（4）、成像透镜（7）和调校用摄像系统（8）依次设置于同一竖直光路上；扩束系统（3）和第二分束立方棱镜（5）依次设置于第一反射镜（2）的竖直反射光路上，氦氖激光器（1）位于第一反射镜（2）的水

专利地区：陕西