一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法专利登记公告
专利名称:一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法
摘要:本发明公开了一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法,其中测温定标和非均匀校正的流程是非均匀校正先开始,进行到生成校正参数和之后,进行测温定标,但此时非均匀校正的过程没有停止,一直在进行循环判断参数是否发生漂移,若漂移则对参数进行校正,否则继续判断,测温定标过程是每采集一个温度的探测器响应,对其利用之前计算非均匀参数进行一次非均匀校正,然后记录下该温度和探测器响应数据,重复该过程,直到采集到足够数据,然后对数据进行拟合,得到探测器温度响应函数。本发明将红外探测器非均匀校正和测温的定标步骤简化为一
专利类型:发明专利
专利号:CN201210003527.0
专利申请(专利权)人:电子科技大学
专利发明(设计)人:刘子骥;曾星鑫;蔡贝贝;杨书兵;郑兴
主权项:一种红外探测器测温的定标和校正方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)对红外探测器图像非均匀性进行校正a)将红外探测器对准标准黑体,将黑体调整到两个不同的温度值T1和T2作为校正点,采集这两个不同温度值时的探测器单元的响应电压U1(i,j)和U2(i,j),探测器阵列为M×N,M和N分别表示面阵光敏单元的行数和列数,(i,j)表示第(i,j)光敏单元;b)分别对两个不同温度值的探测器响应电压求取平均值:和
专利地区:四川
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。