一种芯片测试模式的进入方法及相关装置专利登记公告

专利名称：一种芯片测试模式的进入方法及相关装置

摘要：本发明提供一种进入芯片测试模式的方法与相关装置。芯片的成品测试和中测测试都需要在ROM中写入测试程式，为了不影响用户码的ROM区域，因此在芯片内部增加了专用测试ROM区域，测试专用ROM区域中存放测试芯片的相关测试程式。为了防止客户错误进入测试ROM区域，本发明在芯片内建芯片进入测试模式的相关电路，芯片测试时特定的时序经由芯片内建的进入测试模式的电路，芯片才能成功进入测试模式，在芯片复位完成后使能测试ROM，以便芯片执行测试ROM中的值。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210041270.8

专利申请（专利权）人：苏州华芯微电子股份有限公司

专利发明（设计）人：江猛;严秀萍;韩红娟;杨卫

主权项：一种芯片，其特征在于其内建一芯片进入测试ROM的电路，其测试电路包含有：?主电路，用于接收和传递信号；?输入电路，其具有三个输入端口，该输入电路接收输入信号并加以处理后，由主电路接收；?输出电路，用来提供一输出信号，该输出信号接收由主电路传递过来的信号并加以处理。

专利地区：江苏