基于超导Bi2212能隙的物理解释的节点能隙确定方法专利登记公告

专利名称：基于超导Bi2212能隙的物理解释的节点能隙确定方法

摘要：利用基于NSS态的电子配对模型，并结合Bi2212的已有结果，我们解释了超导铜氧化物体系的反节点和节点特征。这些解释与其他一些重要的实验结果定性符合得很好。视在能隙的幅度被确认为对该能隙所在处的电子配对稳定性的量度，因为它表明稳定的电子配对(NSS态)只能在更低能量处实现。在转变温度Tc或其附近，如Bi2212的一个体系的化学势由其中最稳定的电子配对决定，基本上等于其电子的测得能量的上限。Bi2212的节点配对最稳定的原因尚不确定，虽然中介格波模的声子耗尽可能是个线索。尚不能确定节点配对的视在B带部分是否

专利类型：发明专利

专利号：CN201210044872.9

专利申请（专利权）人：田多贤

专利发明（设计）人：李强

主权项：基于对超导Bi2212体系的能隙的物理解释的节点能隙确定方法，其特征在于包括：确定所述超导Bi2212体系的化学势，确定中介所述超导Bi2212体系的节点配对的格波模的能量，把所述节点能隙确定为从所述化学势以上所述格波模的能量的范围。

专利地区：北京