一种用于微缺陷的激光超声检测方法专利登记公告

专利名称：一种用于微缺陷的激光超声检测方法

摘要：本发明涉及一种用于微缺陷的激光超声检测方法，包括以下步骤：激光探头发出脉冲激光倾斜作用在被测工件上；将空气耦合探头放置在激光探头的同侧，并垂直对着被测工件表面，调节空气耦合探头与被测工件表面的距离接收因材料缺陷而产生的散射信号；通过空气耦合探头接收到的散射信号来判断材料中存在的缺陷。本发明能够克服盲区的影响，适合于检测较薄工件及近表面的缺陷、检测工艺简单、检测过程由机器控制、重复性好、不依赖于检测人员的技术水平和工作态度。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210055740.6

专利申请（专利权）人：上海市特种设备监督检验技术研究院

专利发明（设计）人：王继锋;王少军;俞厚德;钱耀洲;汤晓英

主权项：一种用于微缺陷的激光超声检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)激光探头发出脉冲激光倾斜作用在被测工件上；(2)将空气耦合探头放置在激光探头的同侧，并垂直对着被测工件表面，调节空气耦合探头与被测工件表面的距离接收因材料缺陷而产生的散射信号；(3)通过空气耦合探头接收到的散射信号来判断材料中存在的缺陷。

专利地区：上海