一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置专利登记公告

专利名称：一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置

摘要：本发明公开了一种高光谱图像中目标地物检测方法及装置。所述方法包括：分析一待检测目标地物对应的光谱反射率曲线；构造一包含该光谱反射率曲线中特征吸收波段的样本波段集；将该待检测目标地物的高光谱图像中该样本波段集的各波段对应的图像作为空间维图像；确定各空间维图像所对应的像元样本集；计算各像元样本集对应像元的协方差矩阵；将处于光谱维对应位置的各像元样本集中像元的协方差矩阵进行累加并求平均，且将所获得的平均值作为该对应位置像元的有效协方差矩阵；对各有效协方差矩阵进行求逆运算，并将逆运算结果作为该待检测目标地物在该高

专利类型：发明专利

专利号：CN201210056079.0

专利申请（专利权）人：中国科学院对地观测与数字地球科学中心

专利发明（设计）人：张兵;高连如;杨威;孙旭;吴远峰;李利伟

主权项：一种高光谱图像中目标地物检测方法，其特征在于，所述方法包括：分析一待检测目标地物对应的光谱反射率曲线；构造一包含所述光谱反射率曲线中特征吸收波段的样本波段集；将所述待检测目标地物的高光谱图像中所述样本波段集的各波段对应的图像作为空间维图像；确定各空间维图像所对应的、包含预设数量像元的像元样本集；计算各像元样本集对应像元的协方差矩阵；将处于光谱维对应位置的各像元样本集中像元的协方差矩阵进行累加并求平均，且将所获得的平均值作为所述对应位置像元的有效协方差矩阵；对各有效协方差矩阵进行求逆运算，并将逆运算结果作为

专利地区：北京