红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法专利登记公告

专利名称：红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法

摘要：本发明公开了一种红外焦平面阵列(IRFPA)探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法，针对IRFPA探测器非均匀性响应的校正输出对残差抑制的要求，引入加权的均匀背景校正残差以补偿实际场景的校正误差，将辐射源定标校正与残差对消方法相结合，抑制了IRFPA探测器的残余非均匀性，有效降低了校正后响应值与实际场景辐照值之间的偏差，并使得IRFPA探测器的温度分辨率得以提升。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210057116.X

专利申请（专利权）人：华中光电技术研究所中国船舶重工集团公司第七一七研究所

专利发明（设计）人：赖睿;张智杰;杨银堂

主权项：一种红外焦平面阵列探测器非均匀性校正残差的实时补偿方法，基于参考辐射源定标与残差对消，其特征在于包括如下步骤：(1)利用IRFPA探测器采集黑体辐射源在响应动态范围内任一温度点的辐射响应F(Φ0)；(2)将成像系统快门关闭，利用IRFPA探测器采集均匀背景辐射的响应输出F(Φ1)；(3)以黑体辐射F(Φ0)为参考值对均匀背景辐射进行一点定标校正，得到校正结果F′(Φ1)；(4)将成像系统快门打开，利用IRFPA探测器采集实际场景辐射的响应输出F(Φ2)；(5)以均匀背景辐射响应输出F(Φ1)为参考值对实际

专利地区：湖北