用激光干涉仪测量数控机床圆轨迹的装置专利登记公告

专利名称：用激光干涉仪测量数控机床圆轨迹的装置

摘要：本发明为用激光干涉仪测量数控机床圆轨迹的装置，解决已有装置结构复杂、误差大的问题。本发明的激光头（9）、分光镜（10）、反射镜（11）和（12）置于数控机床的工作台上（17），沿Y方向运动；长直角棱镜（13）和（14）、棱镜基体（15）及夹持器（16）构成一体，通过夹持器（16）固定于数控机床的主轴,沿X方向运动。长直角棱镜（13）和（14）构成了激光干涉仪的二个靶镜，当机床作圆轨迹运动时，分别感受Y和X方向的位移，激光头（9）得到Y和X方向的位移差，此差值与名义差值比较，得到数控机床的圆轨迹误差。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210076185.5

专利申请（专利权）人：成都工具研究所有限公司

专利发明（设计）人：羡一民;巫兴胜;田良;郭曦;邱易;代燕芹

主权项：用激光干涉仪测量数控机床圆轨迹的装置，其特征在于激光干涉仪的激光头置于数控机床的工作台上或工作台之外，分光镜、第一反射镜、第二反射镜置于工作台上，工作台沿Y轴方向运动，激光头、分光镜和第一反射镜位于与Y轴平行的第一轴线，分光镜、第二反射镜位于与X轴平行的第二轴线，第一、二长镜固定于棱镜基体上并且反射面垂直、棱镜基体与夹持器固连，夹持器与数据机床主轴固连，主轴沿X轴方向运动，通过第一、二反射镜的光与第一、二长镜镜面垂直，激光干涉仪有放大器、电子处理器和微机。

专利地区：四川