基于点目标像拼合的光学系统横向放大率测量方法与装置专利登记公告

专利名称：基于点目标像拼合的光学系统横向放大率测量方法与装置

摘要：基于点目标像拼合的光学系统横向放大率测量方法与装置属于以采用光学方法为特征的计量设备领域；本方法使点目标处于不同视场下并对其两次成像，根据两幅点目标像构造出线状图像，在频域中利用实际测量得到的调制传递函数值第一次达到极小值时所对应的频率与理论截止频率相等，计算得到光学系统横向放大率；本装置中承载点目标的滑块安装在第一导轨和第二导轨上，滑块在第一导轨上的运动与滑块在第二导轨上的运动相配合，使点目标在任意视场位置都准焦成像到图像传感器表面；采用本发明测量光学系统横向放大率，有利于减小单次测量结果之间的误差，进

专利类型：发明专利

专利号：CN201210084782.2

专利申请（专利权）人：哈尔滨工业大学

专利发明（设计）人：谭久彬;赵烟桥;刘俭

主权项：基于点目标像拼合的光学系统横向放大率测量方法，其特征在于所述方法步骤如下：a.图像传感器对静态点目标第一次成像，得到第一帧初始静态点目标图像，并提取点目标像所在像素坐标位置(x1，y1)；b.使点目标沿图像传感器行或列方向运动，位移量为d，之后保持点目标为静止状态；c.保持图像传感器曝光时间不变，图像传感器对静态点目标第二次成像，得到第二帧初始静态点目标图像，并提取点目标像所在像素坐标位置(x2，y2)；d.移除点目标并保持图像传感器曝光时间不变，图像传感器对背景成像，得到干扰图像，并将干扰图像中灰度值的

专利地区：黑龙江