利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法与装置专利登记公告
专利名称:利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法与装置
摘要:利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法与装置属于以采用光学方法为特征的计量设备领域;本方法在点目标匀速运动状态下对其成像,得到线状图像,在频域中寻找像素间距的取值范围,并根据与像素间距相关的实际调制传递函数曲线与理论调制传递函数曲线在最小二乘条件下重合度最好,利用搜索算法计算得到光学系统横向放大率;本装置中承载点目标的滑块安装在第一导轨和第二导轨上,控制器控制滑块在第一导轨上匀速运动时,控制器控制滑块在第二导轨上运动,且两个方向的运动相配合,使点目标在运动过程中始终准焦成像到图像传感器表面;采用本发
专利类型:发明专利
专利号:CN201210085051.X
专利申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
专利发明(设计)人:谭久彬;赵烟桥;刘俭
主权项:利用匀速动点目标的光学系统横向放大率测量方法,其特征在于所述方法步骤如下:a.设定点目标的运动速度v和图像传感器的曝光时间t,可以计算点目标在物方的运动位移为:d=v·t;b.在第a步参数下,图像传感器对沿图像传感器行或列方向运动的点目标成像,得到初始点扩展函数图像;保持图像传感器的曝光时间t不变,移除点目标,图像传感器对背景成像,得到干扰图像,并将干扰图像中灰度值的最大值作为阈值;c.将第b步得到的初始点扩展函数图像中,点目标扫过行或列的整行或整列信息提取出来,作为初始线扩展函数图像,并将初始线扩展函数
专利地区:黑龙江
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。