一种基于非加权区域采样的反走样直线绘制方法专利登记公告

专利名称：一种基于非加权区域采样的反走样直线绘制方法

摘要：本发明提出了一种基于非加权区域采样的反走样直线绘制方法，对所绘制直线通过光栅图形显示屏的每一列的操作可概括为：(1)通过绘制直线的Bresenham算法确定当前列距离理想直线最近的三个显示像元，其中距离直线最近的显示像元必有灰度值，另外两个显示像元可能有灰度值，而当前列其余显示像元则没有灰度值；(2)将这三个显示像元中的每一个都均分为数量等同于光栅显示屏灰度级数的子像元；(3)通过Bresenham算法分别确定与代表直线的矩形的两条边距离最近的两组子像元，这两组子像元给出代表直线的矩形在当前列中覆盖区域的

专利类型：发明专利

专利号：CN201210123982.4

专利申请（专利权）人：北京航空航天大学

专利发明（设计）人：毛峡;刘运龙;薛雨丽;陈立江;郑海超

主权项：本发明提出了一种基于非加权区域采样的反走样直线绘制方法，可用于对显示平滑度要求比较高的仪器仪表等领域；其特征在于对所要绘制的直线(这里只讨论斜率在0～1之间的情况，对于其它情况可通过将X轴与Y轴互换处理)在光栅图形显示屏上经过的每一列显示像元均进行如下步骤的操作：步骤一：确定当前列与所要绘制的理想直线距离最近的三个显示像元；步骤二：对步骤一获取的三个显示像元进行均匀分割，得到若干个子像元；步骤三：确定代表直线的具有一个单位像元宽度的矩形在当前列的覆盖范围；步骤四：分别统计步骤一获取的三个显示像元被矩形所覆

专利地区：北京